掃描電鏡操作直觀的模塊化掃描電子顯微鏡(SEM)平臺適用于日常檢測與研究應(yīng)用，高可用性：EVO配備的兩種用戶界面(SmartSEMTouch和SmartSEM)可滿足不同用戶的需求。SmartSEMTouch采用觸摸屏設(shè)計，只需指尖輕觸便能輕松控制交互式工作流程。操作簡單易上手，大大減少了培訓(xùn)的工作量及成本。即便是新手用戶，也能在幾分鐘內(nèi)采集到出色的圖像。

雙束掃描電鏡借助這款掃描電子顯微鏡的超快速度,開啟您對新維度的探索。現(xiàn)如今,在MultiSEM出色的圖像采集速度推動下,您終于能夠以納米級的圖像分辨率對大型樣品進(jìn)行高通量快速成像。

蔡司3D掃描電鏡是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。

掃描電子顯微鏡SEM 具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進(jìn)行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中獲取各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

掃描電子顯微鏡SEM EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

卡爾蔡司電子顯微鏡SEM，將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。

掃描電子顯微鏡SEM 借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設(shè)計。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

掃描電子顯微鏡SEM 蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實驗室，您都可以在一臺設(shè)備上實現(xiàn)多用戶同時操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設(shè)計理念，您可以根據(jù)自己需求的變化隨時升級儀器系統(tǒng)。在加工、成像或是實現(xiàn)三維重構(gòu)分析時，Crosssbeam系列都將